XIPE: the x-ray imaging polarimetry explorer

Soffitta, P.;Bellazzini, R.;Bozzo, E.;Burwitz, V.;Castro-Tirado, A.;Costa, E.;Courvoisier, T.;Feng, H.;Gburek, S.;Goosmann, R.;Karas, V.;Matt, G.;Muleri, F.;Nandra, K.;Pearce, M.;Poutanen, J.;Reglero, V.;Sabau Maria, D.;Santangelo, A.;Tagliaferri, G.;Tenzer, C.;Vink, J.;Weisskopf, M. C.;Zane, S.;Agudo, I.;Antonelli, A.;Attina, P.;Baldini, L.;Bykov, A.;Carpentiero, R.;Cavazzuti, E.;Churazov, E.;Del Monte, E.;De Martino, D.;Donnarumma, I.;Doroshenko, V.;Evangelista, Y.;Ferreira, I.;Gallo, E.;Grosso, N.;Kaaret, P.;Kuulkers, E.;Laranaga, J.;Latronico, L.;Lumb, D. H.;Macian, J.;Malzac, J.;Marin, F.;Massaro, E.;Minuti, M.;Mundell, C.;Ness, J. U.;Oosterbroek, T.;Paltani, S.;Pareschi, G.;Perna, R.;Petrucci, P. -O.;Pinazo, H. B.;Pinchera, M.;Rodriguez, J. P.;Roncadelli, M.;Santovincenzo, A.;Sazonov, S.;Sgro, C.;Spiga, D.;Svoboda, J.;Theobald, C.;Theodorou, T.;Turolla, R.;Wilhelmi de Ona, E.;Winter, B.;Akbar, A. M.;Allan, H.;Aloisio, R.;Altamirano, D.;Amati, L.;Amato, E.;Angelakis, E.;Arezu, J.;Atteia, J. -L.;Axelsson, M.;Bachetti, M.;Ballo, L.;Balman, S.;Bandiera, R.;Barcons, X.;Basso, S.;Baykal, A.;Becker, W.;Behar, E.;Beheshtipour, B.;Belmont, R.;Berger, E.;Bernardini, F.;Bianchi, S.;Bisnovatyi-Kogan, G.;Blasi, P.;Blay, P.;Bodaghee, A.;Boer, M.;Boettcher, M.;Bogdanov, S.;Bombaci, I.;Bonino, R.;Braga, J.;Brandt, W.;Brez, A.;Bucciantini, N.;Burderi, L.;Caiazzo, I.;Campana, R.